Fábio Alves Zuim
Instituição:
Universidade Federal do Rio de Janeiro
Centro:
Centro de Ciências da Saúde
Unidade:
Instituto de Ciências Biomédicas
Departamento:
Técnico Administrativos/ICB
Formação:
-
Centro Brasileiro de Pesquisas Físicas
Física | Mestrado Profissional | 2015 - 2017
-
Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia do Rio de Janeiro
Licenciatura em Física | Graduação | 2006 - 2014
-
Centro Federal de Educação Tecnológica Celso Suckow da Fonseca
Engenharia Industrial Mecânica | Graduação | 2005 - 2009
-
Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia do Rio de Janeiro
| Ensino Profissional de nível técnico | 2003 - 2007
-
Colégio Santa Rita
| Ensino Médio (2o grau) | 2002 - 2004
Laboratórios:
Nenhum laboratório cadastrado
Nuvens de Palavras:
Artigos:
(100.00% artigos com DOI)
| Titulo | DOI | Ano |
|---|---|---|
| Artefatos causados pelo feixe de íons Ga durante o preparo de amostras de silício no microscópio de íons focalizados (FIB) | 10.7437/NT2236-7640/2017.02.007 | 2017 |
| Medição de temperatura: O saber comum ignorado nas aulas experimentais | 10.1590/s1806-11173721770 | 2015 |
Eventos:
Nenhum evento cadastrado